ATE主控可同时连接多个测试工位，同步测试多台微逆，显著提升生产效率和设备利用率。

 针对不同型号微逆，只需在软件端切换测试方案和治具，无需复杂硬件改动，缩短换线时间。

 开放测试仪器集成：采用标准驱动框架，同类仪器可互换，设备更换无差使用。仪器无品牌限制，驱动、指令集持续迭代、升级，可扩展性强；

 适配微逆各种接口（AC/DC端子、通信接口）和通信协议（Modbus, CAN等）；

 上位机根据数据判断被测试品参数指标是否符合测试需求，给出测试报表与判定结果。

 ALIRO自研上位机软件V1.0，实现自动测试与数据收集MES上传。